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RESIST entwickelt neue Ansätze für resiliente Elektroniksysteme

Neue Entwicklungsmethoden für Industrieelektronik – daran hat das Forschungsprojekt RESIST drei Jahre lang gearbeitet. Ziel ist, Lebensdauer und Sicherheit elektronischer Baugruppen im Automobil- und Luftfahrtsektor entscheidend zu erhöhen.

31.05.2018
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RESIST entwickelt neue Ansätze für resiliente Elektroniksysteme (Foto: Fraunhofer IIS/EAS)

Neue Entwicklungsmethoden für Industrieelektronik – daran hat das Forschungsprojekt RESIST drei Jahre lang gearbeitet. Ziel ist, Lebensdauer und Sicherheit elektronischer Baugruppen im Automobil- und Luftfahrtsektor entscheidend zu erhöhen.

Die Partner des Forschungsprojekts RESIST (RESilient Integrated SysTems) haben in den letzten drei Jahren an neuen Ansätzen für die Entwicklung resilienter Elektroniksysteme geforscht, die in den rauen Umgebungs- und Betriebsbedingungen von Fahrzeugkomponenten hohen Belastungen ausgesetzt sind. Dafür wurden Konzepte erarbeitet, wie besonders leistungsfähige mikro- und nanoelektronische Bauteile möglichst zuverlässig und robust konstruiert werden können.

Die neuen Entwurfsmethoden und Lösungen für sicherheitskritische Elektronik zielen zudem auf ein Frühwarnsystem ab. Fehler sollen diesem Ansatz zufolge bereits vor einem Ausfall entdeckt und korrigiert werden können – zum Beispiel durch Sensoren, die die Funktion einer Schaltung laufend überwachen. Drohendes Versagen durch Verschleiß kann so rechtzeitig erkannt werden. Die Projektarbeiten sollen dazu beitragen, dass sich die Lebensdauer und Ausfallsicherheit elektronischer Baugruppen in Automobil- und Luftfahrtanwendungen von heute zehn bis 15 auf zukünftig 25 bis 35 Jahre erhöhen.

Zu den deutschen Partnern des EU-Projekts RESIST, das von NXP Semiconductors Netherlands koordiniert wurde, gehören unter anderem Airbus Innovations , das Fraunhofer-Institut für Integrierte Schaltungen IIS , die Robert Bosch GmbH und die TU München . Eine Übersicht über den Stand der zugehörigen Publikationen gibt es auf der Webpräsenz von RESIST.

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