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HANNOVER MESSE 2020, 20. - 24. April
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Forum tech transfer

SIO X-Ray: Einblicke in Ihre Werkstoffsysteme mit Tribologischen Kontakt-Experimenten

Ort & Sprache

Halle 2, Stand C02

Sprache

deutsch, englisch

Details

Veranstaltungsart

Vortrag

Schwerpunkt

Industrie 4.0, Predictive Maintenance, Research & Technology

Veranstaltungsreihe

Forum tech transfer

Session

Forschung, Innovation & Technologie für Dinge in Relativer Bewegung

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Beschreibung

Heutzutage werden verwendete Materialsysteme in allen Anwendungsfeldern immer komplexer. Diese komplexen Strukturen werden benötigt, um die Lebensdauer der Komponenten zu erhöhen und die Systemeigenschaften zu verbessern. Insbesondere auf den Gebieten der Tribologie sind dies sehr bedeutende Wertgrößen. Diese gesteigerte Komplexität erfordert erweiterte Analytik- und Optimierungsmethoden. Ingenieurwissen allein ist nicht mehr ausreichend.   Exakte Charakterisierung und Optimierung solcher Strukturen erfordern umkehrbare mathematische Werkzeuge mit genügend ganzheitlichem Charakter. SIO entwickelt analytische Modelle, die die Simulation gegenüber FEM-Systemen dramatisch beschleunigen.   Zusammen mit Messtechnik ist es jetzt möglich, solche komplexen Materialkombinationen zu charakterisieren. SIO X-Ray gibt einen Einblick in den Werkstoff, um zu sehen was sich wirklich während eines Kontakt-Experiments ereignet und wird es leichter machen, initiale Ausfallursachen zu finden.

Sprecher

 Dipl.-Inf. Nick Bierwisch

Dipl.-Inf. Nick Bierwisch

SIO® - Saxonian Institute of Surface Mechanics

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